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Leandro Fernandes de Almeida
Físico – UFMG
Pós Graduando em Cristalografia – UFMG
11 Anos de Experiência em Laboratórios de Análise Geoquímica (SGS-GEOSOL, VALE e Bureau Veritas) trabalhando com Fluorescência e Difração de RX.

Difratômetro Multifuncional de Raios X - Geometria Bragg-Brentano HD

Leandro Almeida

PANalytical

Resumo
A Difração de Raios X é uma poderosa técnica analítica, com diversas aplicações e está presente nos mais diversos setores, tanto no setor público quanto privado. Cada dia novos desafios técnicos se impõe a esta técnica, que evolui continuamente.
Neste contexto, Difratômetros de Raios X multifuncionais tem um papel interessante por otimizar a rotina de trabalho e os recursos disponíveis no laboratório, atendendo a projetos diversos em um contexto multidisciplinar.
A maior parte dos trabalhos em difratometria de raios X é efetuado utilizando a tradicional e consolidada geometria Bragg-Brentano. Transpondo os limites típicos desta configuração a PANalytical lança a geometria Bragg-Brentano HD, que oferece o menor background e a melhor relação sinal ruído além de extender o uso da óptica a diversas outras aplicações como análise de filmes finos e SAXS.
Esta apresentação visa um resumo das perspectivas atuais da difratometria de pós, micro-difração, camadas / filmes, reflectometria, distribuição de pares, análise de espalhamento a baixo ângulo e cristalografia com foco no difratômetro multifuncional Empyrean, com estudo de aplicações atualmente em desenvolvimento.



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