Leandro Almeida
  • Físico – UFMG
  • Mestre em Cristalografia – UFMG
  • 11 Anos de Experiência em Laboratórios de Análise Geoquímica (SGS-GEOSOL, VALE e Bureau Veritas) trabalhando com Fluorescência e Difração de RX.

 

Difratômetria Multifuncional de Raios X

Leandro Almeida

PANalytical

Resumo
A difração de raios-X é uma poderosa técnica analítica com diversas aplicações, presente nos mais diversos setores. Cada dia novos desafios técnicos se impõe a esta técnica, que evolui continuamente.
Neste contexto, difratômetros de RX multifuncionais tem um papel interessante por otimizar a rotina de trabalho e os recursos disponíveis no laboratório, atendendo a projetos diversos em um contexto multidisciplinar.
Esta apresentação visa um resumo das perspectivas atuais da difratometria de pós, micro-difração, camadas / filmes, reflectometria, distribuição de pares, análise de espalhamento a baixo ângulo, cristalografia e tomografia com foco no difratômetro multifuncional Empyrean, com estudo de aplicações atualmente em desenvolvimento.
Especial ênfase será dada a nova tecnologia de detectores, capazes de trabalhar como detectores pontuais, lineares, área ou tridimensional (tomografia) com taxas de aquisição de dados resolução muito superiores aos atuais.
Neste contexto para argilas e minerais serão abordadas as seguintes rotinas:
Identificação de fases, metodologias de coleta de dados em reflexão / transmissão, refinamento de perfil completo pelo método de Rietveld, quantificação de fases, obtenção de informação estrutural a partir do refinamento (tamanho de cristalito, micro-stress, etc.)

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