Uso da difratometria Multifuncional de Raios X na Caracterização de Materiais Cerâmicos e Refratários – Estudos de Caracterização in Situ e Microdifração

Leandro Fernandes de Almeida

PANalytical

Resumo
A difração de raios X é uma ferramenta chave no estudo e caracterização de materiais. A possibilidade de obtenção de informações estruturais concomitante à determinação das fases cristalográficas em sistemas onde a coleta de dados em escala laboratorial é feita nos regimes de temperatura, composição de atmosfera e pressão a torna bastante valiosa para análise de materiais refratários e cerâmicos. A evolução da Difração de Raios X nos últimos anos foi tremenda, tornando possível a execução em escala laboratorial experimentos que há uma década atrás demandariam o uso de instalações especializadas. Esta evolução da técnica analítica propiciou também o desenvolvimento de algoritmos de tratamento avançados que permitem a extração e refinamento de concentrações e micro-estrutura das fases cristalinas em tempo real, incluindo também o tratamento de fases amorfas. Em especial destaca-se o Método de Refinamento de Rietveld para o tratamento destes dados, associado ao método de análise de perfil de Willianson-Hall para elucidação da micro-estrutura. Serão apresentadas caracterizações in situ de materiais cerâmicos efetuadas em difratômetro multifuncional, utilizando-se câmaras de condições não ambiente (temperatura e umidade) associados à difração de raios X rápida (1D) e microdifração (2D) para caracterização estrutural e de fases.


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