Controle de qualidade e caracterização de materiais refratários e cerâmicos via DRX

Leandro Fernandes de Almeida É Físico e Pós Graduado em Cristalografia pela Universidade Federal de Minas Gerais – UFMG. Possui 15 anos de experiência trabalhando em Laboratórios Geoquímicos e Ambientais (SGS,VALE e Bureau Veritas).

Sua área de atuação engloba diversas técnicas instrumentais aplicadas a análise Geoquímica – AAS, ICP, UV-VIS, IR – e um foco em fluorescência de raios X (XRF) e difração de raios X (XRD). Sua pesquisa acadêmica está vinculada a abordagem cristalográfica da dinâmica de evolução de sistemas minerais.

Leandro Fernandes de Almeida

Especialista de Aplicação XRF e XRD  – Malvern Panalytical

Resumo

Materiais refratários e cerâmicos apresentam boa correlação entre suas propriedades com sua composição de fases cristalográficas. Neste âmbito a difração de raios X se apresenta como uma técnica chave devido à sua capacidade de identificar e quantificar as fases presentes.

Isto pode ser feito tanto em amostras in natura quanto em condições in situ, onde as condições de temperatura, umidade e pressão são variadas durante o experimento, simulando o regime onde estes materiais serão utilizados em aplicações reais.

Nesta palestra serão abordadas possibilidades de uso do método na caracterização de materiais cerâmicos e possibilidades de automação para o uso em rotina..